1、低氣壓單項試驗
2、低氣壓-溫度綜合試驗
3、低氣壓-溫度-濕度綜合試驗

電子電工產(chǎn)品之所以要進行低氣壓測試，是因為由于大氣壓的降低，電工電子產(chǎn)品的機械性能和電氣性能都會受到很大影響，有時會導(dǎo)致產(chǎn)品的破壞。例如電工電子產(chǎn)品散熱情況于正常大氣條件不同。由此可知，低氣壓條件下，輻射散熱所占比例增大，對流散熱所占比例降低，此外由于大氣密度的降低，散熱產(chǎn)品周圍介質(zhì)條件也將發(fā)生變化。
低氣壓對電工電子產(chǎn)品的影響在正常大氣條件下是無法模擬的，因此必須進行低氣壓試驗。 電子電工產(chǎn)品低氣壓試驗?zāi)康氖谴_定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運輸或使用的適應(yīng)性。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸殡姽る娮赢a(chǎn)品提供專業(yè)的低氣壓試驗等服務(wù)。

健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸殡姽る娮赢a(chǎn)品提供專業(yè)的低氣壓試驗等服務(wù)。

GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試程 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓
IEC 60068-2-13：1983（第1版）基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分：試驗 試驗M：低氣壓
GB/T 2423.25電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.26電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分：總則

1.計算機類：電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等。
2.電子通信類：手機、射頻器、電子通信元器件等。
3.電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備。
4.電工類：插座、插頭等。