試樣各部分都應達到試驗箱（室）溫度3K以內才開始試驗。對于散熱型試樣，在溫度穩定的試驗箱（室）內試樣的溫度變化在每小時不超過1K時作為開始（或終止）暴露周期的時間，試樣溫度達到穩定的最后1h作為暴露周期的最初1 h。
包括：沖擊與高溫綜合試驗、碰撞與高溫綜合試驗、沖擊與低溫綜合試驗、碰撞與低溫綜合試驗、自由跌落與高溫綜合試驗、自由跌落與低溫綜合試驗

光學和光子學儀器沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗目的是研究試樣的光學、熱學、力學、化學和電學性能受到沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫影響變化的程度。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光學和光子學儀器的環境試驗能力，為光學和光子學儀器產品提供專業的沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗等綜合環境試驗服務。

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GB/T 12085.1-2022 光學和光子學 環境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍
ISO 9022-13光學和光學儀器 環境試驗方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗
GB/T 12085.13-2010 光學和光學儀器 環境試驗方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗
DIN ISO 9022-13光學和光學儀器 環境試驗方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗
BS ISO 9022-13光學和光學儀器 環境試驗方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗
GB/T 2423.43 電工電子產品 環境試驗 第2部分：試驗方法 振動、沖擊和類似動力學試驗樣品的安裝
GB/T 12085.1光學和光學儀器 環境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍
GB/T12085.2光學和光學儀器 環境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱
GB/T 12085.3光學和光學儀器 環境試驗方法 第3部分：機械作用力
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫

所有光學和光子學儀器包括來自其他領域附屬組件（如機械、化學和電子設備）