1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測(cè)器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機(jī)、光接收機(jī)和光中繼器的關(guān)鍵器件，和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無(wú)源器件：光無(wú)源器件主要有連接器、光纖準(zhǔn)直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開(kāi)關(guān)、光濾波器、光衰減器等。

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗(yàn)方法
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
EN 60749-6-2002 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第6部分：高溫儲(chǔ)存
GB/T 4937.23 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法  第23部分：高溫工作壽命
DZ 0039.11-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)條件及方法 高溫/高壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.63-2019 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（混合模式）綜合

電子元器件的失效很多是由于環(huán)境溫度造成體內(nèi)和表面的各種物理、化學(xué)變化所引起的。溫度升高后，使得化學(xué)反應(yīng)速率大大加快，其失效過(guò)程也得到加速，使有缺陷的元器件能及時(shí)暴露。通信用光電子器件高溫貯存試驗(yàn)可確定光電子器件能否經(jīng)受高溫下的運(yùn)輸和貯存，以保證光電子器件經(jīng)受高溫后能在規(guī)定條件下正常工作。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的高溫貯存試驗(yàn)服務(wù)。

按以下程序進(jìn)行試驗(yàn)：
a）試驗(yàn)前測(cè)試試樣的主要光電特性；
b）把試樣貯存在規(guī)定試驗(yàn)條件的恒溫控制試驗(yàn)箱中，在開(kāi)始計(jì)時(shí)之前應(yīng)有足夠升溫時(shí)間，使所有試樣處在規(guī)定的溫度下，溫度傳感器應(yīng)位于工作區(qū)內(nèi)最低溫度的位置處；
c）在達(dá)到規(guī)定的試驗(yàn)時(shí)間后，把試樣從試驗(yàn)環(huán)境中移出，放置24 h，使之達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件，并對(duì)試樣光電特性進(jìn)行測(cè)試。