1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測(cè)器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機(jī)、光接收機(jī)和光中繼器的關(guān)鍵器件，和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無(wú)源器件：光無(wú)源器件主要有連接器、光纖準(zhǔn)直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開(kāi)關(guān)、光濾波器、光衰減器等。

GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗(yàn)方法
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求

電子元器件封裝密封的可靠性直接影響產(chǎn)品的性能，輕則使器件性能劣化，重則對(duì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)產(chǎn)生腐蝕，致使電子元器件失效。電子元器件當(dāng)處在某一壓力條件下時(shí)，都會(huì)出現(xiàn)一定的泄漏。因此，密封泄漏是一個(gè)相對(duì)概念。通常以電子元器件的漏氣速率大小來(lái)衡量其密封性能的好壞，漏氣速率越低，表明其密封性能相對(duì)越好。
通信用光電子器件密封性試驗(yàn)可確定具有內(nèi)空腔的光電子器件密封封裝的氣密性。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的密封性試驗(yàn)服務(wù)。

1、檢測(cè)
先進(jìn)行細(xì)檢漏，后進(jìn)行粗檢漏。若按細(xì)檢漏條件或粗檢漏條件進(jìn)行批次試驗(yàn)（即在檢漏儀中每次放置一個(gè)以上的試樣）時(shí)，只要出現(xiàn)失效情況﹐就應(yīng)認(rèn)為該批失效。
2、失效判據(jù)
完成試驗(yàn)后，試樣出現(xiàn)下列情況之一判為失效：
a）細(xì)檢漏程序：不滿足試樣封裝內(nèi)腔體積規(guī)定的相應(yīng)失效極限值。
b）粗檢漏程序：從同一位置出來(lái)的一串明顯氣泡或兩個(gè)以上大氣泡。