根據(jù)異物的實際情況選擇不同的測試方法：
1.FTIR如果異物是有機物，通常選用顯微紅外光譜儀進行分析，獲得異物的官能團信息，與標準譜庫進行檢索，確定異物的主要成分；
2.SEM+EDS如果異物是金屬或者氧化物，并且沒有明確的官能團信息，通常選用電子顯微鏡-X射線能譜分析儀（SEM+EDS)對異物或材料表面進行元素成分分析。
3.XPS如果異物是金屬或者氧化物，并且沒有明確的官能團信息，同時是在材料極表面（納米級別）時，通常選用X射線光電子能譜儀（XPS）進行元素成分分析。

表面異物分析是指對產(chǎn)品表面的微小異物或表面污染物、析出物進行成分分析的技術，例如對表面嵌入異物、斑點、油狀物、噴霜等異常物質(zhì)進行定性分析，借此找尋污染源或配方不相容者，是改善產(chǎn)品最常用的分析方法之一。健明迪檢測開展金屬表面異物成分分析服務，具備CMA、CNAS資質(zhì)認證。

GB/T 17432-2012 變形鋁及鋁合金化學成分分析取樣方法
GB/T 28898-2012 冶金材料化學成分分析測量不確定度評定
GB/T 25051-2010 鎳鐵顆粒.成分分析用樣品的采取
GB/T 25050-2010 鎳鐵錠或塊 成分分析用樣品的采取
GB/T 35657-2017 化學分析方法驗證確認和內(nèi)部質(zhì)量控制實施指南　基于樣品消解的金屬組分分析
GB/T 32996-2016 表面化學分析 輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化物膜
ASTM B214-2016 金屬粉末篩分分析的標準試驗方法
BS EN 13615-2001 金屬鑄塊錫的分析方法.原子吸收光譜測定法測定99.90% 和 99.85%等級錫錠的雜質(zhì)成分含量