試樣各部分都應(yīng)達到試驗箱（室）溫度3K以內(nèi)才開始試驗。對于散熱型試樣，在溫度穩(wěn)定的試驗箱（室）內(nèi)試樣的溫度變化在每小時不超過1K時作為開始（或終止）暴露周期的時間，試樣溫度達到穩(wěn)定的最后1h作為暴露周期的最初1 h。
分為：振動（正弦）與高溫綜合試驗、振動（正弦）與低溫綜合試驗。

光學(xué)和光子學(xué)儀器振動與高溫低溫綜合試驗?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受振動（正弦）與高溫、低溫的影響時的變化程度。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光學(xué)和光子學(xué)儀器的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸楣鈱W(xué)和光子學(xué)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的等環(huán)境試驗服務(wù)。

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GB/T 12085.1-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第1部分：術(shù)語、試驗范圍
ISO 9022-1：2016光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第1部分：術(shù)語、試驗范圍
ISO 9022-10：1998光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第10部分：振動（正弦）與高溫、低溫綜合試驗
GB/T 12085.10-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第10部分：振動（正弦）與高溫、低溫綜合試驗
GB/T 12085.2-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱
GB/T 12085.3-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第3部分：機械作用力
GB/T 2423.35電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗
GB/T 2423.36 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Z/BFc；散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗
GB/T 2423.43 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法振動沖擊和類似動力學(xué)試驗樣品的安裝

所有光學(xué)和光子學(xué)儀器包括來自其他領(lǐng)域附屬組件（如機械、化學(xué)和電子設(shè)備）